環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)規(guī)范列表
應(yīng)力篩選規(guī)范列表
應(yīng)力篩選規(guī)范：
|
MIL-202C-106、107
|
電子及電器部件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
|
|
MIL-781
|
可靠性試驗(yàn)方法手冊(cè)
|
|
HB/Z213
|
機(jī)載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選指南
|
|
HB6206
|
機(jī)載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法
|
|
JESD22-A109-A
|
器密試驗(yàn)方法
|
|
TE000-AB-GTP-020
|
環(huán)境應(yīng)力篩選要求與海軍電子設(shè)備應(yīng)用
|
|
CFR-Title 47-Chapter I-68.302
|
美國(guó)聯(lián)邦通訊委員會(huì)環(huán)境模擬
|
|
GJB/Z34
|
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南
|
|
HB/Z213
|
組件級(jí)環(huán)境應(yīng)力篩選
|
溫度循環(huán)：
|
EC 68-2-14
|
溫度變化
|
|
MIL-STD-2164
|
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法=GJB1032-1990
|
|
GJB1032-1990
|
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法
|
|
DOD-HDBK-344
|
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選=GJB/Z34-1993
|
|
NABMAT-9492
|
美軍海軍製造篩選
|
|
JIS C5030
|
熱循環(huán)試驗(yàn)
|
零件預(yù)燒試驗(yàn)：
|
MIL-STD-883,Method 1008
|
預(yù)燒
|
|
MIL-STD-883,Method 1015
|
(IC類預(yù)燒)
|
|
MIL-STD-750,Method 1038
|
(二極體類預(yù)燒)
|
|
MIL-STD-750,Method1039
|
電晶體類預(yù)燒)
|
|
MIL-STD-883,Method 1010
|
溫度循環(huán)
|
|
MIL-M-38510
|
軍用微型電路的一般規(guī)格
|
|
MIL-S-19500
|
半導(dǎo)體器件要求和特點(diǎn)
|
系統(tǒng)預(yù)燒：
|
MIL-781
|
可靠性設(shè)計(jì)鑒定與生產(chǎn)接收試驗(yàn)
|
|
MIL-810
|
美國(guó)軍標(biāo)環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)
|
