GB/T 12085.4-2010標(biāo)準(zhǔn)簡介

GB/T 12085.4規(guī)定了鹽霧試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。

本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。

本試驗?zāi)康氖潜M早對儀器表面和保護涂(鍍)層抵抗鹽霧的能力進行評估。

GB/T 12085《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：

—— 第1部分：術(shù)語、試驗范圍;

——第2部分：低溫，高溫、濕熱;

——第3部分：機械作用力;

——第4部分：鹽霧;

——第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗;

——第6部分：砂塵;

——第7部分：滴水、淋雨;

——第8部分：高壓、低壓、浸沒;

——第9部分：太陽輻射;

——第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗;

——第1l部分：長霉;

——第12部分：污染;

——第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗;

——第14部分：露、霜、冰;

——第15部分：寬帶隨機振動(數(shù)字拄制)與高溫、低溫綜合試驗;

——第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗。

本部分為GB/T 12085的第4部分。

本部分修改采用IS0 9022-4：2002《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第4部分：鹽霧》。

本部分與IS0 9022-4：2002的主要差異如下：

——刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的序占和前言;

——根據(jù)IS0 9022-4第1章及我國標(biāo)準(zhǔn)用語習(xí)慣對標(biāo)準(zhǔn)范圍作了重新編寫;

——“國際標(biāo)準(zhǔn)本部分”一詞改為“本部分”。

本部分代替GB/T 12085.4-1989《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法鹽霧》，與GB/T 12085.4 -1989的主要差異為：

——合并范圍與試驗?zāi)康模瑢⒃囼炏薅ǚ湃嗽囼灄l件中，并增加試驗限定的總則及適宜性與不適宜性的條文編號;

——按內(nèi)容重新編排試驗條件的條的編號;

——增加了試驗程序的總則并編號;

——簡化了試驗程序中預(yù)處理的相關(guān)方法制備內(nèi)容;

——增加了環(huán)境試驗的標(biāo)記名稱，修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號的編寫。