JESD22
JEDEC的主要功能包括術(shù)語、定義、產(chǎn)品特征描述與操作、測試方法、生產(chǎn)支持功能、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性、機(jī)械外形、固態(tài)存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、以及射頻識別（RFID）標(biāo)簽等的確定與標(biāo)準(zhǔn)化。
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A100C:2007
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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濕熱循環(huán)偏壓壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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評估非固態(tài)封裝產(chǎn)品在溫度循環(huán)、高濕、偏壓及結(jié)露環(huán)境下。產(chǎn)品抗腐蝕和耐須晶生長性能。
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試驗方法/條件
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ramp time 2h～4h；storage 4h～8h；30~65℃,90%～98%RH
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嚴(yán)酷等級
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默認(rèn)除非特例
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時間
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1008(-24,+168)h
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匹配設(shè)備
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HONGZHAN的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等
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設(shè)備要求
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可編程交替溫濕度變化
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A102D:2010
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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高加速蒸煮試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試方法主要適用于抗?jié)駸岬慕研詼y試，通過高溫高壓飽和濕氣環(huán)境，引發(fā)分層或金屬化腐蝕等失效。主要針對新封裝材料及結(jié)構(gòu)變化的考量。
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試驗方法/條件
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121±2℃,100%RH,205KPa
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嚴(yán)酷等級
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Condition A~F
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時間
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24(0,+2)h；48(0,+2)h；96(0,+5)h；168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h
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匹配設(shè)備
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EHS-211、EHS-411
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設(shè)備要求
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高壓蒸煮設(shè)備
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A103D:2010
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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高溫儲存壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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高溫存儲測試通常用于確定時間和
溫度對產(chǎn)品的影響。
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試驗方法/條件
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125(0,+10)℃；150(0,+10)℃；175(0,+10)℃；200(0,+10)℃；250(0,+10)℃；300(0,+10)℃；
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嚴(yán)酷等級
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Condition A~F
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時間
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Condition B 1000h or specifying in accordance with JESD47
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匹配設(shè)備
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HONGZHAN的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
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設(shè)備要求
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試驗過程能穩(wěn)定控溫
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A104D:2009
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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溫度循環(huán)
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試驗?zāi)康?ruby>
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本實(shí)驗用來確定組件、互聯(lián)器件對交替溫度極限變化產(chǎn)生的機(jī)械應(yīng)力的耐受性。
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試驗方法/條件
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-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)
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嚴(yán)酷等級
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Condition A~N
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時間
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500~1000h根據(jù)具體條件指定
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匹配設(shè)備
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TCC、Global-N系列
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設(shè)備要求
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較高的溫變速率
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A105C:2004
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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上電和溫度循環(huán)
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試驗?zāi)康?ruby>
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適用于半導(dǎo)體器件，在交替的高低溫極限中周期的施加卸除偏壓，用于模擬樣件所遭受的最惡劣環(huán)境
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試驗方法/條件
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-40(+0,-10)℃～+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
-40(+0,-10)℃～+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
power on/off 5min
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嚴(yán)酷等級
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Typical condition A~B
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時間
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10 minutes at each extreme temperature
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匹配設(shè)備
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J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列
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設(shè)備要求
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具有可編程控制能達(dá)到指定的溫度變化數(shù)率
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A106B:2004
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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熱沖擊
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試是為了確認(rèn)樣品暴露于極端溫度變化的抵抗力和造成的影響。
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試驗方法/條件
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85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃ TT less than 20s
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嚴(yán)酷等級
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Condition A~D
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時間
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協(xié)議商定
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匹配設(shè)備
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TSB
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設(shè)備要求
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液體導(dǎo)熱媒介
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A107B:2004
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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鹽霧實(shí)驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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用來確定固態(tài)器件抵抗鹽霧腐蝕能力
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試驗方法/條件
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35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小時，pH 6.0~7.5.
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嚴(yán)酷等級
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Condition A~D
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時間
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24h;48h;96h;240h.
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匹配設(shè)備
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板橋理化的SQ系列
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設(shè)備要求
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適合完成中性鹽霧條件的試驗箱
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A108D:2010
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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高溫環(huán)境條件下的工作壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試用于確定偏差的和溫度對固體器件的影響。短時間一種高溫偏壓的壽命測試,俗稱老化,可能被用來剔除早夭期相關(guān)故障。
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試驗方法/條件
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125℃/-10℃
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嚴(yán)酷等級
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由測試時間決定
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時間
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168h；336h；504h或另外商定
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匹配設(shè)備
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HONGZHAN的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
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設(shè)備要求
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樣品在通電狀態(tài)下溫箱溫差控制在5攝氏度內(nèi)
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A110D
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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高加速壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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高加速溫濕度應(yīng)力試驗是為評估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。
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試驗方法/條件
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130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power
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嚴(yán)酷等級
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由所選溫度點(diǎn)決定
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時間
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96h;264h
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匹配設(shè)備
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EHS-211、EHS-411
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設(shè)備要求
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能夠達(dá)到指定的溫濕度條件，并且具備給試樣施加電偏壓的結(jié)構(gòu)
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-A118A:2011
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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不上電的高加速濕氣滲透試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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高加速溫濕度應(yīng)力試驗是為評估非氣密性固態(tài)設(shè)備器件在潮濕的環(huán)境中的可靠性。
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試驗方法/條件
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130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;
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嚴(yán)酷等級
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由所選溫度點(diǎn)決定
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時間
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96h;264h
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匹配設(shè)備
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EHS-211、EHS-411
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設(shè)備要求
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能夠達(dá)到指定的溫濕度條件
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標(biāo)準(zhǔn)編號
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JESD22-B103B:2002
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標(biāo)準(zhǔn)名稱
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振動和掃頻試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試是評估電氣設(shè)備組件。它的目的是確定組件)承受中度到重度的振動運(yùn)動的結(jié)果 運(yùn)輸或野外作業(yè)產(chǎn)生的。
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試驗方法/條件
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正弦掃頻實(shí)驗、隨機(jī)振動試驗
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嚴(yán)酷等級
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正弦掃頻實(shí)驗分8個等級；隨機(jī)振動試驗從試驗等級A~I
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時間
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正弦1decade/min掃過指定等級的規(guī)定的頻率范圍，4次每個軸,3個軸；隨機(jī)每個軸30分鐘，3個軸
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匹配設(shè)備
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DC-3200-36
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設(shè)備要求
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電磁振動臺
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