環(huán)境試驗箱的三種校準方法

為了確保環(huán)境試驗性的精確度，我們往往需要對其的性能進行校準。目前在校準的過程中，主要可以采用三種不同的方法。在實際進行校準的時候，我們需要根據實際情況選擇其中一種最為適合的方法對環(huán)境試驗箱進行校準。

而想要保證選擇的正確性，我們需要先對這三種不同的校準方法進行適當的了解，尤其要對各自的優(yōu)缺點進行分析和研究。下面我們就針對環(huán)境試驗箱常用的這三種不同的校準方法的優(yōu)缺點進行介紹：

第一種校準方法主要是在零負載的情況下進行校準。相比較來說，這種方法的主要優(yōu)點為：能夠對環(huán)境箱的整個工作區(qū)域進行校準，能夠對環(huán)境試驗箱的適用性做出有效的評估。而且在更換測試樣品之后，不需要重新進行校準。

那么，這種校準方法的缺點是什么呢？主要包括一點，就是我們無法及時得知測試樣品會對環(huán)境試驗箱的性能產生怎樣的影響。第二種校準方法是在有負載的情況下進行校準。

相比較而言，這種校準方法的優(yōu)點非常明顯，主要包括：其能夠較為準確的檢測出所用測試樣品對環(huán)境試驗箱性能的影響，而且便于得到測試樣品關鍵部位的環(huán)境試驗的詳細信息。當然，這種方法也有缺點，比如在更換測試樣品之后需要重新進行校準。

最后一種校準方法一般的在使用環(huán)境試驗箱的過程中，進行實時測量。這種方法除了具有第二種方法的優(yōu)勢之外，還能夠得出測試樣品在環(huán)境試驗過程中全面的環(huán)境參數，這種方法一般是在對環(huán)境要求較高的情況喜愛使用。